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考试一紧张,大脑就掉线?——tDCS成功调控考试焦虑者的抑制控制

发布人:周仁来  发布时间:2026-07-24   浏览次数:10

你是否有过这样的经历:明明题会做,但一进考场就像大脑被“弹窗广告”刷屏——同学翻卷子的声音、监考老师走路的脚步、脑内反复播放的那句“要是考砸了怎么办”… 你并不是不会做,而是考试焦虑让你屏蔽不掉干扰。


心理学把这种“关不掉干扰”的能力叫做抑制控制:它是执行功能的一部分,核心任务就是把无关信息按下去,让你把注意力留给真正要做的事。我们近期在国际期刊《Journal of Psychiatric Research》上发表的一项研究发现:通过一种温和的、非侵入式的脑刺激技术(tDCS),可以有效调节高考试焦虑人群的大脑活动,让他们的大脑在应对冲突干扰时更加高效。


我们的大脑就像一台计算机,拥有有限的“认知带宽”。对于高考试焦虑的人来说,他们在考试时,大脑的前额叶皮层不仅要负责答题,还要分出一大半精力去平复紧张情绪、抑制“我肯定考砸了”的负面念头 ,这使得抑制无关干扰的能力下降。该研究指出,高考试焦虑者的这种资源错配,是导致考试发挥失常的核心机制之一 。


为了解决这个问题,研究团队将目光投向了左侧背外侧前额叶皮层(left DLPFC),这是大脑负责执行控制和情绪调节的“核心指挥官”。本研究招募了42名大学生,分为“高考试焦虑组”和“低考试焦虑组”,利用高精度经颅直流电刺激(HD-tDCS)技术,向被试的头皮释放极其微弱的电流(仅1.52毫安),对left DLPFC进行长达25分钟的阳极刺激,以此提高神经元的兴奋性 。在接受电刺激的前后,被试需要完成一项经典的心理学任务——Flanker任务,专门用来测试抑制控制的能力,见图1、2 。



图1.任务流程图




图2.HD-tDCS电场模拟图


研究人员利用脑电技术实时记录了他们的大脑反应。结果发现准确率和反应时并没有出现明显的“刺激后变得更快更准”的效果,但脑电出现了关键变化(见图3、4):

对于低考试焦虑的同学,电流刺激似乎没什么太大的作用,他们的大脑本来就很高效。

但对于高考试焦虑的同学,在接受真正的电流刺激后,脑电P3成分幅度显著下降了。



图3. 电刺激前后高、低考试焦虑组的波形图与地形图(HTA为高考试焦虑组;LTA为低考试焦虑组。Anodal代表真刺激;Sham代表假刺激)



图4. 电刺激前后高、低考试焦虑组的柱形图


这说明了什么?P3 波代表大脑调用了多少资源来处理任务。在行为表现一致的情况下,高焦虑者通常需要调动更多的神经资源来维持表现(P3 波幅大),这是一种低效的“过度补偿”。而P3波幅的下降,意味着在tDCS的帮助下,他们的大脑不需要“声嘶力竭”地调动资源就能完成同样的任务。换句话说,大脑变得更高效了!

该研究为我们干预考试焦虑提供了一个全新的视角:也许在不久的将来,除了深呼吸和心理暗示,未来的考场外,或许会有专门的设备,帮我们在考前给大脑“松松绑”,让我们不再因为紧张而被发挥失常,轻装上阵发挥出真实水平。


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原文索引:

Liu P, Hu Z, Zhou R. Modulating inhibitory control in test-anxious individuals via tDCS: An ERP study. J Psychiatr Res. 195:185-192. doi: 10.1016/j.jpsychires.2026.01.055.


Modulating inhibitory control in test-anxious individuals via tDCS.pdf